









传统光斑的分析方式有明显的局限性,例如烧蚀法等,已经不能满足越来越高的应用需求及精度要求,因此需要具有更、更、成本低廉、操作方便、易于分析和保存的方式,实现对光斑参数的测量和分析。随着ccd技术和计算机技术的不断发展,本文基于
ccd探测器为基础,利用成像方式间接测量光斑特性的系统。光斑分析仪
针对光束的测量和分析,过去几十年中,陆续出现过许多方法,如烧蚀法可以测量强光的光强分布等,光斑分析仪品牌,人们通过这种方法测量光束尤其是强光的面积和形状等。通过在一个特殊的靶面,利用强光源的照射形成一个烧灼的痕迹,针对这个烧灼痕迹的进一步分析,估算出光斑的一些基本参数。光斑分析仪
这种方法对于某些光源是有效的,例如具有能量集中特性的激光。但是,激光光斑分析仪,这种适用于强光源的方法,对于弱光源并不十分适用。并且,该方法得到的一些基本参数都是非常粗略的估计,精度往往达不到要求,并且受到费用和周期的---,每次测量的数据也不容易保存供以后分析。光斑分析仪


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传统的光斑测量方式的局限性,已经不能满足应用的需求,因此需要具有更、更、成本低廉、操作方便、易于分析和保存的方式,实现对光斑参数的测量和分析。几十年间,人们通过改良测试设备,运用新的测量方法等,光斑分析仪厂家,不断地完善和提高测量精度。光斑分析仪
近年来,随着ccd技术和计算机技术的不断发展,已经出现了基于ccd探测器为基础,利用成像方式间接测量光斑特性的系统。该方法结合了光电探测、光学成像原理、图像处理技术以及计算理论等多学科,具备了高稳定性,抗干扰性等传统光学测量的特点,而且,光斑分析仪,克服了传统方式无法处理和保存大量测量数据,精度较差的问题,是目前快速发展的一种光学测量方式。光斑分析仪
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